現(xiàn)代無(wú)損檢測(cè)的定義是：在不損壞試件的前提下，以物理或化學(xué)方法為手段，借助先進(jìn)的技術(shù)和設(shè)備器材，對(duì)試件的內(nèi)部及表面的結(jié)構(gòu)，性質(zhì)，狀態(tài)進(jìn)行檢查和測(cè)試的方法。
主要的檢測(cè)方法有五種：超聲波檢測(cè)UT(Ultrasonic Testing)、射線檢測(cè)RT(Radiographic Testing)、磁粉檢測(cè)MT(Magnetic Particle Testing)、滲透檢測(cè)PT(Penetrant Testing)和目視檢查VT(Visual Testing)
無(wú)損檢測(cè)技術(shù)經(jīng)歷了三個(gè)發(fā)展階段，即無(wú)損探傷(Nondestructive inspection，NDI)、無(wú)損檢測(cè)(Nondestructive testing，NDT)和無(wú)損評(píng)價(jià)(Nondestructive evaluation，NDE)。目前一般統(tǒng)稱(chēng)為無(wú)損檢測(cè)(NDT)，而不是特指上述的第二階段。在這三個(gè)階段中，各階段之間也沒(méi)有****的時(shí)間分界點(diǎn)，它們之間存在相互繼承和發(fā)展，各自的主要特點(diǎn)如下。
1.無(wú)損探傷(NDI)
從國(guó)際上看，這一技術(shù)主要應(yīng)用于20世紀(jì)五六十年代，作為無(wú)損檢測(cè)的初級(jí)階段，其特點(diǎn)是技術(shù)和任務(wù)都較為簡(jiǎn)單。在技術(shù)手段上可選擇的并不豐富，主要采用超聲、射線等技術(shù);在任務(wù)上主要是檢測(cè)試件是否存在缺陷或者異常，其基本任務(wù)是在不破壞產(chǎn)品的情況下發(fā)現(xiàn)零件或者構(gòu)件中的缺陷，滿(mǎn)足工程需要，其檢測(cè)結(jié)論主要分為有缺陷和無(wú)缺陷兩類(lèi)。
2.無(wú)損檢測(cè)(NDT)
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，特別是生產(chǎn)對(duì)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的需求不斷提升，僅僅檢測(cè)出是否有缺陷顯然不能滿(mǎn)足人們的實(shí)際需求。在無(wú)損檢測(cè)(NDT)這一發(fā)展階段，不僅僅是探測(cè)出試件是否含有缺陷，還包括探測(cè)試件的一些其他信息，例如缺陷的結(jié)構(gòu)、性質(zhì)、位置等，并試圖通過(guò)檢測(cè)掌握更多的信息、對(duì)于國(guó)際上發(fā)達(dá)的工業(yè)國(guó)家，這一階段大致開(kāi)始于20世紀(jì)70年代末或者80年代初。
3.無(wú)損檢測(cè)評(píng)價(jià)(NDE)
盡管第二階段的無(wú)損檢測(cè)(NDT)技術(shù)已經(jīng)能夠滿(mǎn)足大部分工業(yè)生產(chǎn)的需求，但是隨著對(duì)材料、構(gòu)件等質(zhì)量要求不斷提高，特別是針對(duì)在役設(shè)備的安全性和經(jīng)濟(jì)性的需求越加突出，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)進(jìn)入了第三階段，即無(wú)損評(píng)價(jià)階段(NDE)。這一階段的一個(gè)標(biāo)志性事件是1996年在新德里召開(kāi)的第14界世界無(wú)損檢測(cè)大會(huì)(Word conference on NDT，WCNDT)，在該次大會(huì)上提出了將無(wú)損檢測(cè)(NDT)變?yōu)闊o(wú)損評(píng)價(jià)(NDE)這一重要觀點(diǎn)，并很快被各國(guó)無(wú)損檢測(cè)界所接受。在這一階段，人們不僅要對(duì)缺陷的有無(wú)、屬性、位置、大小等信息進(jìn)行掌握，還要進(jìn)一步評(píng)估分析缺陷的這些特性對(duì)被檢構(gòu)件的綜合性能指標(biāo)(例如壽命、強(qiáng)度、穩(wěn)定性等)的影響程度，最終給出關(guān)于綜合性指標(biāo)的某些結(jié)論。目前工業(yè)發(fā)達(dá)國(guó)家已經(jīng)處于這一發(fā)展階段。其他國(guó)家有些尚以第二階段的技術(shù)為主，有些則已經(jīng)處在第二階段到第三階段的發(fā)展過(guò)渡中。
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